熒光光譜：缺陷結構與壽命

瀏覽量：807 發(fā)布日期：2020-12-09 16:23:58【大中小】

晶體的主要特征是其中原子的規則排列，但實(shí)際晶體中原子的排列總是或多或少地偏離了嚴格的周期性。晶體中的原子作微振動(dòng)時(shí)破壞了周期性，因而在晶體中傳播的電子波或光電波會(huì )受到散射，這就意味著(zhù)晶體的電學(xué)性質(zhì)或光學(xué)性質(zhì)發(fā)生了變化。在熱起伏過(guò)程中，晶體的某些原子振動(dòng)劇烈，脫離了格點(diǎn)而跑到表面上，在內部留下了空格點(diǎn)，即空位；或者那脫離格點(diǎn)的原子進(jìn)入了晶格中的間隙位置，形成間隙原子。另一方面，外來(lái)的雜質(zhì)原子進(jìn)入晶體后，可以處在間隙位置上，成為間隙式的雜質(zhì)，也可以占據空位而成為取代原子。這些在一個(gè)或幾個(gè)晶格常數的線(xiàn)度范圍內引起晶格周期性的破壞，統稱(chēng)為晶體中的點(diǎn)缺陷。晶體中的缺陷影響著(zhù)晶體的力學(xué)、電學(xué)、熱學(xué)、光學(xué)等等方面的性質(zhì)。熒光光譜(Photoluminescence Spectroscopy) 是研究半導體納米材料的電子結構和光學(xué)性能的有效方法，特別是對于一些缺陷的判斷，并且能獲得光生載流子的遷移、捕獲和復合等信息。